終了致しました。多数のご来場ありがとうございました。

2012年2月8日からサンシャインシティコンベンションセンターTOKYOにて開催されます「PAGE 2012」に出展致します。

●ご好評頂いておりますカメラ入力式比較検査システム【CorrectEye(コレクトアイ)】の最新バージョンを出展致します。
タッチパネルによる簡単操作で、対象物どうしをすばやく検査することが可能となり、印刷現場での刷りとり検査にも導入しやすい全く新しい検査システムです。

●組み合わせを選ばない検査ツール【Hallmarker】(ホールマーカー)を中心にデジタルデータと出力物との検版・検査ソリューションをご提案致します。

●ジーティービーの提案する「修正のため上流工程に戻らない1BitTiff CTPワークフロー」【Bit-Through(ビットスルー)シリーズ】で、プリプレスから印刷工程まで一環したデジタルワークフローをご提案致します。

【会期】
2012年2月8日（水）～2月10日（金）
午前10：00～午後5：00

【会場】
サンシャインシティコンベンションセンターTOKYO
〒170-8630　東京都豊島区東池袋3-1
（小間番号D-32）